- Badania odporności na zużycie ścierne
- Badania szybkości zużycia
- Badania grubości powłok
- Trzpień na kulki i piny o średnicach: 1,5; 3; 6 i 10mm
- Obciążenia: 0,25N, 0,5N, 1N, 2N, 2N, 5N, 10N, 20N, 30N, 60N
- Maksymalna długość testu 40 dni
- Urządzenie do indentacji
- Próba ściskania „in situ”
- Próba zginania „in situ”
- Scratch test „in situ”
- Pomiar nanotwardości „in situ”
Skaningowy mikroskop elektronowy Tescan Vega 4 GMU wraz z analizatorem EDS Oxford Instruments Explore
Skaningowy mikroskop elektronowy pozwala na przeprowadzenie analiz topografii i morfologii powierzchni z jednoczesnym prowadzeniem mikroanalizy pierwiastkowej.
Dzięki zastosowaniu zmiennej próżni możliwe jest prowadzenie obserwacji również preparatów słabo przewodzących prąd. Duża komora robocza pozwala na pracę z dużymi próbkami bez potrzeby ich cięcia.
Cechy:
– emiter wolframowy
– detektor SE oraz BSE
– praca w zmiennej próżni
– duża komora robocza
– analizator EDS
– max. powiększenie: 500 000x
Galeria zdjęć
